Peralatan yang dibutuhkan dalam pembuatan kartu ucapan. (Dok. LIPI)
Dok. LIPI)
"Kami bertekad untuk terus berkontribusi dalam pengembangan ilmu pengetahuan. Ini adalah salah satu itikad kami para peneliti untuk memperkenalkan teknologi terbaru yang Indonesia miliki kepada masyarakat luas,” ungkap Dr. Eni Sugiarti, Peneliti dan pakar karakterisasi nano material Puslit Fisika LIPI.
Dual-Beam FIB dilengkapi dengan empat detektor yang terdiri dari Secondary Electron, Back Scattered Electron, Energy Dispersive Spectroscopy (EDS), dan Electron Backscattered Diffraction (EBSD). Alat ini juga dilengkapi oleh omniprobe in-situ pick up system.
Dengan empat detektor, teknologi Schottky Field Emitter Gun (FEG), Galium Liquid Metal Ion source, (GIS) material carbon, tungsten dan platina maka peralatan ini dapat berfungsi sebagai :
- Field Emission-Scanning Electron Microscopy (FE-SEM).
- Peralatan pendukung preparasi sampel mikroskop transmisi/Transmission Electron Microscopy (TEM).
- Nano patterning/Scanning Vector.
- Dua dimensi dan tiga dimensi gambar nanostruktur, EDS dan EBSD yang memungkinan pengambilan data kuantitatif menggunakan mode point, mapping dan line analysis untuk EDS serta proses tiga dimensi yang dapat direkam dalam bentuk video.
- Dilengkapi dengan cooling stage sehingga memungkinkan pengamatan sampel-sampel yang bersifat non konduktif seperti beberapa aplikasi di bidang life sciences, polymer, dan sebagainya.
Dengan adanya teknologi ini, Rike berharap kualitas penelitian di Indonesia akan terus meningkat dan mampu bersaing dengan negara lain.
(Sumber: LIPI)